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納米粒度分析儀是國家科技型中小企業(yè)技術創(chuàng)新基金項目成果（立項代碼：10C26213704395），也是國內采用動態(tài)光散射原理的納米粒度儀。其測量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎之上，顆粒越小，運動速度越快，顆粒越大，運動速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光電倍增管和我公司自主研制的高速數(shù)字相關器作為核心器件，通過測試某一角度的散射光的變化并求出自相關函數(shù)（即擴散系數(shù)），根據(jù)Stokes－Einstein方程計算出顆粒粒徑及分布。它具有快速、高分辨率、重復及準確等特點，同時還具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的優(yōu)點，是納米顆粒粒度測試的*產(chǎn)品。
粒度分析儀采用更先進的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；
納米粒度分析儀性能特點
先進的測試原理 該儀器采用動態(tài)光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；
高靈敏度與信噪比 探測器采用HAMAMATSU光電倍增管（PMT），其具有*的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結果的準確度；
超高速數(shù)據(jù)采集 核心部件采用我公司自主研制CR256數(shù)字相關器，它實時完成動態(tài)散射光強的采集和自相關函數(shù)運算，從而有效地反映不同大小顆粒的動態(tài)光散射信息，為測試結果的準確度奠定基礎；
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖技術搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關譜探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩(wěn)定性；
高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導體溫控技術，溫控精度高達±0.2℃，使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差，保證測試結果準確度及穩(wěn)定性。
納米粒度分析儀技術參數(shù)：
| 規(guī)格型號 | Winner802 | |
| 執(zhí)行標準 | GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008 | |
| 測試范圍 | 1 ~ 10000nm（與樣品有關） | |
| 準確度 | < 1%（標準樣品平均粒徑） | |
| 重復性 | < 1%（標準樣品平均粒徑） | |
| 測試濃度 | 0.1mg/ml ~ 100mg/ml（與樣品有關） | |
| 激光 | 半導體激光器，λ= 532nm， P=30mW | |
| 探測器 | 光電倍增管（PMT） | |
| 散射角 | 90o | |
| 樣品池 | 10mm×10mm×40mm, 1 ~ 4mL | |
| 測試溫度 | 5 ~ 40 ℃ | |
| 溫控精度 | ±0.2 ℃ | |
| 測試速度 | < 5Min | |
| 體積 | 480mm×270mm×170mm | |
| 重量 | 12Kg | |
| 數(shù)字 相關器 | 規(guī)格型號 | CR256 |
| 自相關通道 | 256 | |
| 基線通道 | 4 | |
| 單位延遲時間 | 100ns ~ 10ms | |