Winner802納米粒度分析儀是一款先進的動態(tài)光散射粒度分析儀，專為納米顆粒的粒度分析而設計。其執(zhí)行標準遵循GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996和GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008，確保了其性能的可靠性和準確性。

該儀器采用動態(tài)光散射原理進行測試，這一方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點。這種非侵入性的測試方法確保了測試結果的真實性和有效性，為用戶提供了準確的納米顆粒粒度信息。

探測器是儀器性能的關鍵組成部分。Winner802納米粒度分析儀采用HAMAMATSU光電倍增管（PMT），具有出色的靈敏度和信噪比。這一高性能探測器能夠捕捉到微弱的信號，從而提高了測試結果的準確度。

核心部件采用自主研制的CR256數(shù)字相關器，它能夠實時完成動態(tài)散射光強的采集和自相關函數(shù)運算。這一核心部件為測試結果的準確度奠定了堅實基礎，確保了儀器能夠準確反映不同大小顆粒的動態(tài)光散射信息。

穩(wěn)定的光路系統(tǒng)是保證測試準確性和穩(wěn)定性的關鍵因素之一。Winner802納米粒度分析儀采用光纖技術搭建而成的光路系統(tǒng)，不僅體積小巧，而且具有出色的抗干擾能力。這使得儀器能夠在各種環(huán)境下都能保持穩(wěn)定的測試性能。

為了確保測試結果的準確性和穩(wěn)定性，該儀器還配備了高精度恒溫控制系統(tǒng)。采用半導體溫控技術，該系統(tǒng)能夠將溫度精度控制在±0.2℃范圍內。這使得樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免了因溫度變化而引起的液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差。

總之，Winner802納米粒度分析儀憑借其先進的測試原理、高性能探測器、核心部件、穩(wěn)定的光路系統(tǒng)和精確的恒溫控制系統(tǒng)，為用戶提供了準確、可靠的納米顆粒粒度分析結果。無論是在科研實驗室還是工業(yè)生產(chǎn)中，Winner802納米粒度分析儀都是用戶進行納米顆粒粒度分析的理想選擇。